光热电离谱

（材料科学技术）

光热电离谱（photothermal ionization spectroscopy，PTIS），材料科学技术名词，当半导体处于低温和红外光照射下时，利用光和热两步激发，探测入射光子能量与由电子(或空穴)跃迁引起的光电导响应关系，确定杂质种类及其浓度的技术。