光热电离谱
(材料科学技术)
光热电离谱(photothermal ionization spectroscopy,PTIS),材料科学技术名词,当半导体处于低温和红外光照射下时,利用光和热两步激发,探测入射光子能量与由电子(或空穴)跃迁引起的光电导响应关系,确定杂质种类及其浓度的技术。
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