结构光三维面形测量（3D profile measurement by structured light），理学-物理学-光学-〔光的应用〕-〔光学技术〕，一种获取物体面形信息的方法。又称条纹剖面术。投影装置产生特殊设计的强度分布的光场（称结构光），投影在被测三维物体表面，成像装置（如摄像机）获取在结构光照射下物体表面的二维图像，分析获取的光场与投影光场的结构变化，通过计算得到被测物体三维面形。结构照明方式包括点结构光、线结构光、多线结构光和面结构光（图1）。点结构光系统投射一个光点到待测表面，采用线阵探测器作为接收器件，每次只有一个点被测量，为了形成完整的三维面形，必须附加二维扫描装置。第二种结构光系统投射一条线到待测物体表面，采用二维面阵探测器作为接收器件，只需要附加一维扫描就可以形成完整的三维面形数据。第三种结构光系统投射多条线，每次测量可以得到多个剖面的数据。第四种是面结构光系统，它投影一个特殊设计的二维编码图形到待测物体表面，采用面阵探测器，可以对被测表面进行全场测量。点、线结构光系统通常采用激光光源，而面结构光系统一般采用白光光源。