质子X射线荧光分析

（冶金学）

质子X射线荧光分析（proton-induced X-ray emission，PIXE），冶金学名词，以入射高能质子(或氦粒子)束诱发待分析元素发射特征X射线，从而分析薄膜及近表面层化学成分的一种方法。