电离层直接探测

电离层直接探测（ionospheric direct sounding），理学-地球物理学-空间物理学-电离层-电离层探测-电离层直接探测，利用火箭、卫星等空间飞行器将探测装置携带到电离层中，测量电离层介质对装置的直接作用，以获得电离层参量的方法。直接探测能测到间接探测不易测到的参量，如离子成分、离子密度、离子温度和高空磁场等；测量精度高，有较高的空间分辨率，可以探测较精细的电离层结构。根据测量的对象和目的，探测装置主要有探针（收集电荷微粒的导电体装置）和磁力计。探针分电子探针、离子探针和质谱探针。