带电粒子探测（charged particle detection），工学-核技术-〔核探测器和核电子学〕-核辐射探测器-核辐射探测，利用核辐射探测器通过带电粒子产生的电脉冲信号或径迹等测量进行的带电粒子探测。基于带电粒子在核辐射探测器介质中产生的电离或激发，记录核辐射探测器将电离或激发转化的可探测的电脉冲信号或径迹等，实现带电粒子探测。根据带电粒子质量，带电粒子可以分为轻带电粒子和重带电粒子。轻带电粒子有电子和β射线（高速运动的电子流）等，重带电粒子是质量比电子大得多的带电粒子，如质子、氘核、氚核、α粒子、裂变碎片以及加速器产生的荷能重离子等。常用带电粒子探测器有气体为电离介质的气体探测器、半导体为电离介质的半导体探测器、闪烁晶体为电离介质和产生闪烁光的闪烁探测器、能量沉积导致热发光的热释光探测器、产生径迹的核固体径迹探测器。