太赫兹成像（terahertz imaging），工学-光学工程-光学应用-毫米波与太赫兹波-太赫兹波探测-太赫兹成像，通过成像测量方式观测待测样品在太赫兹波段的光学响应，检测样品在二维或三维空间中物理化学特性的光学测量手段。太赫兹成像技术最早出现于1995年，由美国贝尔实验室的研究者首先提出，他们利用太赫兹透射扫描成像方法成功观测了树叶含水量的变化和电子芯片的内部结构。1996年，美国伦斯勒理工学院的张希成等人提出了太赫兹焦平面成像技术；1997年，美国贝尔实验室的D.M.米特尔曼等人提出了太赫兹相干层析技术；1998年，美国贝尔实验室的研究者们提出了太赫兹近场成像技术；2005年，荷兰代尔夫特理工大学研究者们提出了太赫兹偏振成像技术；2008年，美国莱斯大学研究者们提出了太赫兹压缩编码成像技术。太赫兹成像技术的分类有很多种，①按照明方式，太赫兹成像技术可分为主动式成像和被动式成像。主动式成像是利用太赫兹辐射源照明样品进行的成像；被动式成像是通过测量样品热辐射中的太赫兹光谱成分进行的成像。②按照明光源类型，太赫兹成像技术分为太赫兹脉冲成像和连续波成像。