锗-锂探测器

锗-锂探测器（Ge-Li detector）是2016年公布的化学名词。结区为本征半导体，由从p型半导体材料表面扩散进来的锂原子补偿p型半导体材料中的受主杂质形成，需要在低温(液氮温度)下工作以减小漏电流噪声，也需要在低温下保存以防止发生反扩散，可用于γ射线的能谱测量。是一种扩散结型半导体探测器。