可测性设计

可测性设计(design for testability，DFT)是在微电子芯片产品设计中加入了先进的测试设计，使得所涉及芯片的制造测试、开发和应用变得更为容易和便宜。随着集成电路复杂程度的提高和特征尺寸日益缩小，测试已成为需要迫切解决的问题，特别是进入深亚微米以及超高集成度的发展阶段以来，VLSI的测试费用和难度大幅度提高。据报道，随着VLSI集成度的提高，测试费用可达到制造成本的50%