电子迁移可靠度测试

电子迁移可靠度测试EM（ElectronMigrationTest）电子迁移可靠度测试，当电流经过金属导线，使金属原子获得能量，沿区块边界(GrainBoundaries)扩散(Diffusion)，使金属线产生空洞(Void)，甚至断裂，形成失效。