粒子径迹测量（particle track measurement），理学-物理学-粒子物理学，对带电粒子在空间中的飞行轨迹进行探测。带电粒子穿过探测器，沿着飞行轨迹与探测器中的物质发生相互作用，如电离、激发等过程，从而在探测器中留下径迹。以径迹探测为主要目标的探测器通称径迹探测器。径迹探测器通过粒子径迹测量可得到粒子飞行方向、衰变顶点和多重数等信息，适当条件下还可获取电离能损值，与磁场配合还可以测出粒子动量。不同种类的径迹探测器各有其相应的探测和读出方法。早期使用云室、核乳胶、气泡室、火花室及流光室等径迹探测器，采取三维拍照的方法，然后对底片进行扫描和处理，速度效率低，不能满足粒子物理实验不断发展的需要。20世纪60～70年代相继出现了多丝正比室、漂移室和时间投影室等气体径迹室，它们的速度快、效率高、空间分辨率好，在粒子物理实验中获得普遍使用。随后出现的硅微条、硅像素等硅径迹探测器具有很好的计数率能力和空间分辨率，利用复杂的多通道、高密度电子学读出系统，可组成高性能的径迹探测系统。径迹探测器是大型磁谱仪的重要组成部分。