铁电场效应（ferroelectric field effect），理学-物理学-凝聚态物理学-电介质物理学-电介质物理-铁电性，金属-铁电薄膜-半导体异质结构中半导体表面载流子浓度受电压调控的现象。场效应最初是指金属-氧化物-半导体异质结构中，电压通过氧化物电容调控半导体表面载流子浓度的现象。通常，金属-氧化物-半导体场效应晶体管中的栅介质材料为非极性的二氧化硅或铪基氧化物。一旦撤去栅压，栅电容放电，信息就会丢失。铁电场效应就是利用铁电薄膜作为栅介质，栅压通过翻转铁电电容的极化方向对半导体表面的载流子进行非易失性的调制。当铁电薄膜极化指向半导体时，铁电薄膜表面正的极化电荷将在半导体表面诱导出负电荷，一旦栅压使铁电极化翻转，负的极化电荷将使正电荷在半导体表面聚集。