X射线荧光谱法

（材料科学技术）

X射线荧光谱法（X-ray fluorescence spectroscopy），材料科学技术名词，利用元素特征X射线谱进行元素成分及含量分析的一种方法。从每种元素激发出的X射线特征(荧光)谱线都有其特征波长值，其峰值强度与该元素在材料中的含量有关。