瑞利判断（Rayleigh criteria），工学-光学工程-成像系统和成像过程-成像基础-像质评价-瑞利判断，一种采用波像差的最大值进行像质评价的技术。如果系统实际波面与参考球面之间的最大波像差（峰谷值）小于1/4波长，该系统可认为成像质量良好或近似理想成像。若光学系统满足瑞利判断，则一个点物的实际成像光斑（即点扩散函数）十分近似于理想的艾里斑。当波像差增加到1/2以及1个波长时，像质明显变差。瑞利判断是一种简单且便于实际应用的像质评价方法。但是瑞利判断并不是绝对可靠的，一般只是用来作为一种衡量像质优劣程度的指导手段。此外，瑞利判断只考虑了波像差的最大允许值，但并未考虑波像差的整体状况。如果只是由于系统局部缺陷导致波像差最大值超过1/4波长，实际系统的整体像质不会受到明显影响。瑞利判断采用波像差的最大值（PV值）进行像质评价。事实上采用均方根值（RMS）也是可以的。波像差的PV值与RMS值的相互关系随着具体实际波面不同而有所变化，但是通常来说RMS值约为PV值的1/5。若波像差RMS值小于1/20波长，也可以认为系统近似理想成像。