主要应用于半导体器件,MEMS,超导材料(零电阻测量技术),纳米材料精密测量(超高电阻和微弱电流测量),先进半导体和纳米材料测量(霍尔系数和微弱电流等),纳米电子器件(器件I-V性能,脉冲测量能力),先进显示器件TFT液晶,先进微电子器件和微机电系统的测试,也可以进行学生在纳米材料制备和器件基本内容 探针台主要应用于半导体行业[1]以及光电行业的测试。 目前在中国地区被广泛使用的品牌是:台湾宜准ADVANCED,它以性价比高著称而深受业界好评。 此外,美国Cascade 和德国 Karl SuSS, 作为较高端的产品其价格也相对较高而未能在国内获得较大响应。 探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动 从功能上来区分有:高温探针台,低温探针台,RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台 经济手动型 chuck尺寸100mm X,Y移动行程100mm chuck Z轴方向升降10mm(选项) 搭配AEC实体显微镜 针座摆放个数2~4颗 适用领域:4寸Wafer,如晶圆厂、LED、学术单位等 手动型 chuck尺寸800mm/600mm X,Y电动移动行程200mm/150mm chuck粗调升降9mm,微调升降16mm 可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜 针座摆放个数6~8颗 显微镜X-Y-Z移动范围2'x2'x2' 可搭配Probe card测试 适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品 电动型 chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金) X,Y电动移动行程300mm x 300mm chuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u 可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜 针座摆放个数8~12颗 显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“ 材质:花岗岩台面+不锈钢 可搭配Probe card测