摄谱仪X射线摄谱仪:X-ray spectrograph;γ射线摄谱仪:gammaspectrograph 1912年，劳厄(Max von laue)发现X射线通过晶体可以产生衍射花样。在汤姆逊、卢瑟福、劳厄工作的影响下，1913年布拉格父子(William Henry Bragg and William Lawrece Bragg)建立了X射线衍射的理论，制造出第一台X射线摄谱仪，确立了晶体结构的第一个实验分析方法，他们首次推算了晶体中正负离子的半径;改进了X射线摄谱仪及其计算方法，测定了许多元素的标志X射线的波长。 摄谱仪(spectrograph)，是把光依波长散开以形成光谱的仪器。