结构光照明显微技术

结构光照明显微技术（structured illumination microscopy），工学-光学工程-光学应用-光学测量-微纳米测量-超分辨显微技术，基于常规荧光显微镜，通过利用特殊调制的结构光照明样品，运用特定算法从调制图像数据中提取焦平面信息，重建出突破衍射极限限制的超高分辨三维图像的显微技术。结构光照明显微技术（structured illumination microscopy，SIM）由加州大学旧金山分校的M.古塔弗森（Mats Gustafsson，美国，1960～2011）于2000年发明。使用一定样式的结构光照射未知结构的样品时，在采样物体的空间频率与照射光线的空间频率有差异的地方，由相互衍射得到一系列的莫尔条纹。莫尔条纹放大了原先不能够分辨出来的样品结构，然后经计算机进一步分析处理，从而重建出样本的高分辨率图像。SIM技术的核心有两个方面：①结构光的产生；②SIM图像的重构算法。对于SIM技术结构光的产生，结构光的发生装置是关键。根据在照明光路中加入的发生装置的不同可分为：①光栅型SIM显微镜；②空间光调制器型SIM显微镜；③数字微镜阵列型SIM显微镜。