光学系统波像差测量（wave aberration measurement of optical system），工学-光学工程-光学应用-光学测量-波像差计量，球面波经过实际光学系统后，对变形后的实际波面与理想波发生偏离而出现光程差的测量。通过波像差测量，可对光学系统的成像质量做出客观评价。理想光学系统的成像波前是以理想像点为中心的球面，即理想波面。若光学系统不是理想光学系统，存在设计偏差以及各种加工误差、装调误差等，通过该系统之后的实际波面不再是理想波面，而是变形的非理想波面。波像差是非理想的实际波面和理想波面之间的偏离。测量实际波前和理想波前之间的光程差，即可计量波像差的大小，并作为衡量该像点质量合格的标准。波像差不仅可以作为光学元件、光学系统的质量评价标准，通过对波像差进行分析和处理，还可辨析出造成该点像差的主要原因。常见的光学系统波像差测量法有泰曼格林型干涉测量法和菲索型干涉测量法。