[半导体探测器的]死层

（计量学名词）

[半导体探测器的]死层（dead layer [of semiconductor detector]）是2015年公布的计量学名词。半导体探测器中紧接耗尽层的不灵敏部分。待测粒子在其中损失的能量对形成最终信号没有明显贡献。