偏振相关损耗测量（measurement of polarization dependent loss），工学-光学工程-光学应用-光学测量-光纤器件参数计量-偏振相关损耗测量，在光纤、光器件或由光纤和光器件组成的网络传输过程中，由于光的偏振特性变化（所有偏振状态下）而引起光功率最大变化量的测量。由于器件偏振相关损耗的存在，器件的插入损耗随偏振状态而异。这种效应会沿传输链路不可控制地增长，影响传输质量。个别器件的偏振相关损耗会在系统内造成大的信号的功率波动、幅度噪声和波形失真等问题，甚至会导致网络故障。引起光器件偏振相关损耗的因素有很多，如器件材料本身双折射、制造过程中胶等引入的内部应力、光接触面角度、反射及环境条件的变化等。偏振相关损耗测量原理主要有两类：①偏振扫描法，稳定光源发出的恒定功率的光，经过偏振控制器后得到所有可能的偏振状态且功率不发生变化，依次通过待测器件，从而检测到待测器件在所有偏振状态下的最大输出和最小输出。