切片干涉法（slice interferometry），工学-光学工程-光学应用-光学测量-光纤特性参数计量-折射率分布测量，将光纤横向切一层厚即微米厚的薄片作为样品，将他放入麦克尔逊干涉仪、马赫-曾德尔干涉仪、等厚干涉仪等干涉仪的一个臂中，形成干涉条纹图案的方法。根据条纹图形反推导出光纤的折射率分布曲线，在光纤的横薄片样品上可取得干涉条纹，根据条纹的位移量可推导出：式中，为包层折射率，为处的条纹偏移距离，为条纹间距，为薄片样品的厚度，为测试光源的中心波长。为了得到理想的结果，应注意：样品厚度要合适，太薄加工样品困难，太厚则产生的干涉条纹过密或得不到清晰的干涉条纹；样品应严格不变形，两面平行，有一定光洁度等；准确测量样品厚度，因其值影响折射率相对值；激光束应为单横模，稳定性较好，有一定的输出功率。