二探针法

（材料科学技术）

二探针法（two-probe measurement），材料科学技术名词，在柱形样品两端通以直流电流，测量垂直压在被测样品侧面的两支金属探针之间的电位差，由此计算被测半导体样品平均体电阻率的电学测量技术。