X射线摄谱仪：X-ray spectrograph；γ射线摄谱仪：gammaspectrograph 1912年，劳厄（Max von laue）发现X射线通过晶体可以产生衍射花样。在汤姆逊、卢瑟福、劳厄工作的影响下，1913年布拉格父子（William Henry Bragg and William Lawrece Bragg）建立了X射线衍射的理论，制造出第一台X射线摄谱仪，确立了晶体结构的第一个实验分析方法，他们首次推算了晶体中正负离子的半径；改进了X射线摄谱仪及其计算方法，测定了许多元素的标志X射线的波长。