电离总剂量辐照试验

电离总剂量辐照试验（total ionizing dose radiation test），工学-航空宇航科学与技术-航天-〔航天综合试验与测试〕-〔环境试验〕-电离总剂量辐照试验，将半导体器件（被测器件）放置于辐射场中，利用辐照源对器件进行辐照，并采用规定的测试系统对辐照前后的器件性能进行对比测试，检测器件在辐射环境中的性能退化现象的试验活动。通过辐照试验，评估半导体器件的抗辐射能力，验证器件的抗辐射能力是否达到应用指标要求，保证器件在实际空间辐射环境中能够正常工作。航天系统在空间运行过程中，其系统内的半导体器件会受到来自复杂空间环境中的辐射影响，引起器件电参数性能变化（电离辐射效应）。器件电性能的退化会影响航天系统的安全性和长期稳定性，影响航天任务的顺利进行。因此，航天用半导体器件在选用时需要进行电离总剂量辐照试验以对器件的抗辐射特性进行评估。电离总剂量辐照试验在地面进行。为了高效、准确地评估实际空间内器件的抗辐射能力，需要根据半导体器件的辐射损伤机理设定可靠的评估方法。