X射线荧光录井简称XRF（X Radial Fluorescence）录井。X射线荧光录井根据荧光X射线的波长（能量）和强度对被测样品中元素进行定性和定量分析， 它以计数率即荧光强度为纵坐标，以脉冲幅度即通道号，或X光子能量为横坐标，得到能量色散型仪器的荧光光谱图。X射线荧光分析原理：XRF分析是由X射线管发出的一次X射线，当施加给X射线管的电压达到某一高度值，X射线管发射的一次X射线的能量足以激发样品所含元素原子的内层电子，被逐出的电子为光电子，同时轨道上形成空穴，原子处于不稳定状态。此时，外层高能级的电子自发向内层跃迁填补空位，使原子恢复到稳定的低能态，同时辐射出具有该元素特征的二次X射线，也就是特征荧光X射线。