多探针联合测量系统是一种用于物理学、材料科学领域的物理性能测试仪器，于2016年05月17日启用。1. 提供高真空环境（优于10-3Pa）。2. 提供2个以上的SPM探针功能，SNOM（近场光学）功能：空间分辨率可达50nm，成像范围可达100μm；AFM功能：大气下空间分辨率达10～20nm，成像范围可达100μm；STM功能：分辨率可达0.5埃。3. 光学成像：共聚焦分辨率为200nm。4.样品变温系统：-20～300°C。5.热成像：分辨率为200nm；电阻成像：50nm。6. 具备超高光谱分辨率；7. 焦长：800 mm；光谱范围：200-1000 nm，可扩展至1.6微米；8. 光谱分辨率：可见全波段≤0.65 cm-1，空间分辨率：横向好于1μm，纵向好于2μm；9. 光谱重复性：≤±0.2cm-1；10. 光谱色散平场输出，可使用大尺寸CCD探测器。