全息干涉测量法（holographic interference measurement method），工学-光学工程-光学应用-光学测量-光学材料参数计量-光学材料均匀性测量，利用全息照相获得物体变形前后的光波波阵面相互干涉所产生的干涉条纹图，以分析物体变形的一种干涉量度方法。是实验应力分析方法的一种。全息干涉测量法有双曝光法（两次曝光法）、实时法（即时法）、均时法（时间平均法）。用全息图再现物光的波阵面，可将相位关系全部再现出来，所以能用再现的波阵面进行干涉测量。在激光器出现以前，要用普通的光学干涉法对表面粗糙的物体进行三维测量是极其困难的。若采用全息干涉法，就可实现分时干涉测量，能使存在于不同时刻的波阵面之间的干涉显示出来。由于物光波阵面之间相互干涉时不需要基准波面，所以此法不受光学系统的像差等因素的影响。全息干渉测量法是一种非接触式的全场检测方法，对所测物体的工作条件和环境，如静态载荷、动态载荷、高温、高压等，都没有严格限制，并有较高的检测灵敏度和精度（达到光波波长数量级）。全息图再现时，由于物光波阵面的三维性质，可以从不同的视角对一个复杂的物体进行全息干涉量度。