材料发射率测量（materials emissivity measurement），工学-光学工程-光学应用-光学测量-辐射度计量-材料发射率测量，对各种物质表面的发射率（又称辐射率、黑度系数等）进行测量的方法。由于物体表面的发射率不是物质的本征参数，不仅与物质组分有关，也与物体的表面条件（粗糙度）有关，还与物体的温度和考察的波长等因素有关。即发射率是以上诸多因素的多元函数。表面辐射特性的研究工作可以追溯到18世纪，早在1753年B.富兰克林就提出不同的物质具有不同的接受和发散热量能力的概念。从20世纪50年代开始，受材料科学、空间技术、核能及计算机技术等许多重大科学技术发展的推动，表面辐射特性的研究得到了长足的发展和完善。材料的热辐射特性在不同波长及不同方向上是不相同的，按波长范围不同，可分为光谱或单色及全波长发射率；按发射方向可分为方向、法向及半球发射率。半球发射率测量的目标是待测物体在半球面上的总发射率。包括了各个方向上的辐射，因此要把物体在各个方向上的辐射全部计量在内。