光致发光法测量

光致发光法测量（photoluminescence method），工学-材料科学与工程-电子信息材料-半导体材料-半导体材料性能检测-[光学测量]，受光照激发的物质处于较高的能态，在回复到低能态时，多余的能量通过光和热的形式释放出来，如果以光的形式发射出来，就称为光致发光。固体的光致发光研究可追溯到20世纪50年代，那时研究的重点是绝缘体中离子的内辐射跃迁。到60年代，随着大功率连续工作气体激光器的问世，激光光谱技术的发展，半导体光致发光研究受到了广泛重视。