导电类型测量（measurement of conductivity type），工学-材料科学与工程-电子信息材料-半导体材料-半导体材料性能检测-[电学测量]，对半导体材料导电类型（P或N型）的测量。半导体材料的导电类型是一个重要的基本电学性质。由制备材料时掺杂的浅杂质是受主型的还是施主型的决定了两种导电机制：P型和N型。P型材料中的多数载流子为空穴；N型材料中的多数载流子为电子。测量方法主要有以下3种。①温差电势法，利用温差电效应来测量半导体材料的导电类型，通称冷热探针法。当将不同温度的两根探针压在N型半导体材料上时，产生电子自热探针端向冷探针端方向的扩散流，结果形成冷热两端的电荷积累，产生温差电势差，热探针处有较高的正电势；对P型材料，则为空穴扩散流，冷探针处有较高的正电势。依此可以判别半导体材料的导电类型。这一方法主要适用于低阻半导体材料。②整流法，利用金属探针与半导体材料接触时的整流特性来测量半导体材料的导电类型。将两根探针中的一根与半导体材料形成整流接触，另一根形成欧姆接触，不同导电类型的材料具有不同方向的电流，使检流计指针偏转方向不同，依此来判别半导体材料是P型或N型。