光栅衍射测量（grating diffraction measurement），工学-光学工程-光学应用-光学测量-衍射测量，利用光栅衍射的物理性质对物体物理量进行测量的技术。光栅衍射的物理基础是多缝夫琅禾费衍射，光通过光栅形成光谱是单缝衍射和多缝干涉的共同结果。光栅是强度和相位呈周期分布的光学元件。典型的强度衍射光栅是由大量等宽、等间距、平行排列的狭缝构成的光学元件。衍射光栅分为用透射光工作的透射光栅和用反射光工作的反射光栅。衍射光栅采用刻划、全息照相等方法制作。光栅衍射测量利用光栅谱线位置与波长的关系测定波长。复色平行光通过光栅每个缝的衍射和各缝间的干涉，在成像面上形成暗条纹很宽、明条纹很细的图样，这些锐细而明亮的条纹称作谱线。在成像面上谱线的位置随波长而异并满足光栅方程：式中为光栅刻线宽度；为刻线间距，一般二者相等；为入射角；为衍射角；为光谱级次（）。利用光栅谱线位置与波长的关系，可以精确地测定波长。光栅谱线的特点主要有：①中间为零级谱线，其余各级谱线分布于两侧；②不同波长的光谱线位置不同，并按照波长增加的次序由里向外展开，形成彩色光谱。