二次SPRT（double sequential probability ratio test），理学-统计学-工业统计-抽样检验-抽样检验方案，在原假设和备择假设之间选择一个参数点，从而组成两对假设，对它们的序贯概率比检验（SPRT）方案进行组合的序贯检验方法。简史二次SPRT由美国加州理工学院数学系教授G.洛登（Gary Lorden，1942～ ）于1976年提出，以序贯概率比检验（SPRT）为基础构建，近似解决了Modified Kiefer-Weiss问题。具体是：SPRT方案被证明具有最优性，即在原假设和备择假设（不妨设）成立时的平均样本量（ASN）达到最小。但是，SPRT方案在时的ASN却可能很大。针对SPRT的这一缺陷，有学者提出了Kiefer-Weiss问题，即在满足两类风险的前提下，如何寻找检验方案使得区域内的最大平均样本量达到最小。要找到满足这种最优性的序贯检验方案相当复杂，除了某些特殊情况（如当两类风险值相等时，对方差已知的正态分布均值的检验）外，至今没有完美的解决办法。