电位粒度仪（potential particle size analyzer），理学-物理学-软物质物理学-〔测量〕，用来测量胶体尺度颗粒粒径和表面电位的仪器。有些仪器配置了静态光散射模式，可用于大分子的分子量或胶体颗粒表观质量的测定。电位粒度仪通常采用动态光散射法来测定颗粒的粒径及粒径分布。为了适应高浓度样品的测量，新的技术也被应用到测量中，如背散射技术。通常测量的电位是Zeta电位，采用电泳光散射的方法来测定。测量时通过外加电场使带电颗粒运动，从而导致散射光的频率相对于入射光发生改变（多普勒效应）。散射光频率变化的大小与颗粒的电泳淌度成正比，而电泳淌度与颗粒的Zeta电位成正比。因此，通过测量电泳时散射光频率的变化就可得到颗粒的Zeta电位。电位粒度仪适用于胶体颗粒分散体系、大分子溶液等体系粒径分布及Zeta电位的测量，水溶液和非水体系均适用，在化工、涂料、采矿、农药等许多行业都有广泛应用。