扫描电化学显微镜(Scanning Electrochemical Microscopy, SECM)是显微镜的一种。基于电化学原理工作，可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流。利用驱动非常小的电极(探针)在靠近样品处进行扫描，样品可以是导体、绝缘体或半导体，从而获得对应的微区电化学和相关信息，目前可达到的最高分辨率约为几十纳米。工作原理SECM的一般工作原理是:当探针(常为超微圆盘电极，UMDE)与基底同时浸入含有电活性物质 O的溶液中,在探针上施加电位(ET)使发生还原反应。当探针靠近导电基底时,其示意图电位控制在氧化电位，则基底产物可扩散回探针表面使探针电流增大;探针离样品的距离越近，电流就越大。这个过程则被称为"正反馈"。当探针靠近绝缘基底表面时，本体溶液中O组分向探针的扩散受到基底的阻碍，故探针电流减小;且越接近样品，iT越小。这个过程常被称作"负反馈"。通常SECM工作时采用电流法。固定探针与基底间距对基底进行二维扫描时，探针上电流变化将提供基底的形貌和相应的电化学信息。SECM也可工作于"恒电流"状态，即恒定探针电流，检测探针z向位置变化以实现成像过程。SE