MC008-JD20-0.2μm精密光学计一、特点 ：1、 精度高，测量数据可靠。2、 采用光学投影读数，影屏上亮度大，匀称、像面清晰，操作方便。3、 工作台结构采用互换式，装拆、调整极为方便。4、 灯光调节灵敏可靠。二、用途：本仪器是高精度比较式测长仪器，在工厂计量室及计量检测所等部门广泛用于测量三、四等量块及精密零件（如钢球、滚柱、阶梯形精密零件、塞规）的外尺寸。三、规格参数：基本内容 MC008-JD20-0.2μm精密光学计一、特点 ：1、 精度高，测量数据可靠。2、 采用光学投影读数，影屏上亮度大，匀称、像面清晰，操作方便。3、 工作台结构采用互换式，装拆、调整极为方便。4、 灯光调节灵敏可靠。二、用途：本仪器是高精度比较式测长仪器，在工厂计量室及计量检测所等部门广泛用于测量三、四等量块及精密零件（如钢球、滚柱、阶梯形精密零件、塞规）的外尺寸。三、规格参数：1、比较测量范围（mm）：0―1802、小分划值：0.2μm3、分划板分划范围:±100个分度4、测量力（N）：1.20±0.25、分划线像的微调范围: ±5个分度6、每个分划的视见宽度：1.7┨7、测量轴与测帽内径配合的外径尺寸：φ6g68、测帽内径配合尺寸：φ6H79、示值误差：（0.05+△L/400）μm其中△L―比较测量时的量程（μm）10、示值稳定性：0.02μm11、仪器的外形尺寸(┨):320×230×82012、仪器重量：30┧四、主要附件：球筋工作台 测帽提升器平面工作台 R20球面测帽七筋工作台 φ2平面测帽高量块移动架 φ8平面测帽低量块移动架 1.5×8刃形测帽平面平行平晶 1×2刃形测帽