谱带深度的一种度量方式，对光谱识别和光谱混合分析具有重要的意义。?简介?光谱吸收指数(SAI)为非吸收基线在谱带的波长位置处的反射强度与谱带谷底的反射强度之比，实际上是谱带深度的另一种度量方式，可称为"相对吸收深度"，它用谱带谷底的光谱强度对吸收深度作归一化，因而减少了照度等变化所带来的干扰，增强了对地物的区分能力;光谱吸收指数(SAI)可以表达为单散射反射率 的函数，平均单散射反射率可以进行混合像元光 谱分解成分的丰度反演，因此，可以通过获取一 系列典型地物的光谱吸收指数，通过最小二乘法来反演地物光谱混合成分的含量，这对光谱识别和光谱混合分析具有重要的意义。