单粒子效应辐照试验

单粒子效应辐照试验（single event effect irradiation test），工学-航空宇航科学与技术-航天-〔航天综合试验与测试〕-〔环境试验〕-单粒子效应辐照试验，用多种线性能量转移（LET）离子，以一定倾角入射到被检测器件表面，检测器件发生单粒子事件总数X的试验。单粒子效应作为星载电子系统可靠性的主要威胁之一，随着集成电路的快速发展对电子器件产生的影响变得越来越严重。空间发生的单粒子效应是一些随机事件，但是它却会对星载电子系统产生灾难性的影响。由于宇宙空间中高能带电粒子具有能谱宽和强度大的特点以及集成电路有小型化的发展趋势，单粒子效应成为影响在轨航天器正常运行的主要威胁。所以单粒子效应辐照试验是航天系统可靠性工程建设的组成部分。根据试验条件，单粒子效应辐照试验分为空间搭载实验、地面加速器模拟实验。空间搭载实验属于最接近真实的研究方法。优点是环境真实、数据准确；缺点是成本极高、更换实验条件极其困难以及资源匮乏等。地面加速器模拟实验是国内外比较常用的研究方法。其利用地面加速器来模拟辐射源，经过束流测量系统测试，来预估器件的在轨错误率。