[半导体探测器的]死层
(计量学名词)
[半导体探测器的]死层(dead layer [of semiconductor detector])是2015年公布的计量学名词。半导体探测器中紧接耗尽层的不灵敏部分。待测粒子在其中损失的能量对形成最终信号没有明显贡献。
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