受激发射损耗显微术

受激发射损耗显微术（stimulated emission depletion microscopy）是2018年公布的生物物理学名词。使用两束重叠脉冲激光束以极短的时间间隔依次照射样品，第一束激光使样品中的荧光基团激发，在它们尚未来得及从激发态返回基态前，第二束波长略微红移的激光束经相位掩模光栅形成环形的光斑，将第一束光斑中大部分的荧光基团通过受激发射损耗过程猝灭(即返回到基态上一个较高的振动能态)，从而减少荧光光点的衍射面积，显著地提高显微镜分辨率的一种超高分辨率荧光显微术。