全内反射荧光显微术

全内反射荧光显微术（total internal reflection fluorescence microscopy）是2018年公布的生物物理学名词。用隐失波光选择性地照射和激发直接与载玻片紧密接触的样品内约100 nm的极薄区域的荧光基团，获得无法比拟的高的信噪比和对比度的一种超高分辨率荧光显微术。不像普通的荧光显微镜那样使表面的荧光淹没在表面区域外的强荧光背景中。可用于观察细胞膜表面单分子的荧光。