光学系统分辨率

光学系统分辨率（resolution of an optical system），工学-光学工程-成像系统和成像过程-成像基础-像质评价-光学系统分辨率，光学系统能分辨的最小的细节分辨率力反映一个光学系统分辨物体细节的能力。在不考虑像差时，一个点物通过圆形孔径衍射后得到的光斑为一个艾里斑。两个物点在像面上形成衍射斑。如果一个衍射斑的中心恰好落在另一个衍射斑的第一个暗环上时，这两个物点刚好可以被分辨。根据衍射理论，艾里斑中心到第一暗环的距离（暗环半径）为式中为波长；为系统数值孔径。因此，为了提高系统的分辨力，系统应该工作在更短的波长下并且应该有更高的数值孔径。分辨力是最早用来评价光学系统成像清晰程度的指标之一，也是一种像质评价的综合性指标。当系统像差较大时，像差的变化会引起分辨力的明显变化。而对于像差很小的系统，分辨力基本由衍射决定。因此用分辨力来评价像质并不完善，一般只适用于有较大像差的光学系统。