氢氧根诱导损耗

氢氧根诱导损耗（Hydrogen-induced loss）石英基光纤内氢与玻璃组份化学反应生成各种R-OH键，导致光纤谱损耗曲线上OH吸收峰增长的现象。 通过掺杂剂和合成石英管的恰当选择，改进光纤拉丝工艺等内部微观缺陷，可在一定程度上克服氢氧根诱导损耗。造成光纤衰减的主要因素有：本征，弯曲，挤压，杂质，不均匀和对接等。