电子数显测高仪

《电子数显测高仪(GB/T 22094-2008)》规定了电子数显测高仪的术语和定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0.1 μm、0.2μm、0.5μm和1μm，量程不超过1000 mm的电子数显测高仪（以下简称“测高仪”）。《电子数显测高仪(GB/T 22094-2008)》由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC 132）归口。0标准起草单位：成都工具研究所、马尔精密量仪（苏州）有限公司。本标准主要起草人：李维国、姜志刚、唐以杰、何东星、王春。