高分辨质谱仪

（用于物理学领域的分析仪器）
高分辨质谱仪是一种用于物理学领域的分析仪器，于2012年03月01日启用。可测量小数点后第四位，偏差在3~5ppm。
用户数据
参数表
继承树
构成树
关注人数：
0
技点进度：
0/0
题库进度：
0/0
技能进度：
0/
关注级别：