热电击穿(thermal electrical breakdown),工学-材料科学与工程-电子信息材料-半导体材料-[半导体材料物理性质]-PN结-PN结击穿,由热不稳定性引起的PN结的击穿。又称二次击穿。对于一个处于反向偏置状态的PN结,在反向电压低于雪崩击穿电压时,其反向漏电流很小。但是,由于反偏PN结的电阻很高,PN结功耗以及伴随产生的焦耳热不容忽略。如果有良好的散热系统将这些热量及时传出,可以使PN结处于一个热平衡状态,结温保持不变,反向电流也不会改变;反之,结温就会不断上升,直至PN结热击穿。PN结的反向电流与饱和电流密度成正比,而又正比于本征载流子浓度的平方(),而是温度的指数函数,因而会随着结温的升高而指数上升。的升高致使反向电流增加,会产生更多的焦耳热,进而导致结温新的上升,再度增加。如此反复循环,形成热正反馈,最后使PN结因极度增大而击穿。热电击穿会导致反向电流越来越大,结温越来越高,乃至高达材料的熔点,使器件因晶体的局部烧熔而毁坏。即使没达到晶体熔点,也容易超过欧姆接触处低共熔合金的熔点。因此热电击穿是一种不可恢复的毁坏性击穿。