X射线谱分析

根据物质中各元素所辐射的特征X射线谱的波长和强度，来测定元素成分的分析方法。用高速电子流轰击原子内层电子，并产生电子跃迁，使其发生特征X射线，通过波长色散或能量色散分辨波长或能量并用探测器测量其强度。简介词目:X射线谱分析释文:这种方法称。当用X射线照射物质使其产生特征X射线，再测量其谱线的波长(或能量)和强度的方法，称为二次X射线谱分析或X射线荧光光谱分析。由于后者操作简便、精密度高，已在冶金、地质、石油等部门得到广泛应用。