蚀刻后检查
(半导体相关)
AEI即AfterEtchingInspection,在蚀刻制程光阻去除前和光阻去除后,分别对产品实施主检或抽样检查。AEI的目的有四:提高产品良率,避免不良品外流。达到品质的一致性和制程的重复性。显示制程能力的指标。防止异常扩大,节省成本通常AEI检查出来的不良品,非必要时很少做修改。因为除去氧化层或重长氧化层可能造成组件特性改变可靠性变差、缺点密度增加。生产成本增高,以及良率降低的缺点。
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