X射线荧光厚度计

X射线荧光厚度计（X-ray fluorescence thickness meter）是2014年全国科学技术名词审定委员会公布的放射医学与防护名词，出自《放射医学与防护名词》第一版。使用放射性同位素源测定涂层厚度的一种X射线荧光分析仪。例如利用释出的低能X射线，激发涂层中所含元素放出特征X射线，对此X射线进行测量以确定涂层厚度。