VISI概述? VlSI是70年代后期研制成功的，主要用于制造存储器和微处理机。64k位随机存取存储器是第一代超大规模集成电路，大约包含15万个元件，线宽为3微米。目前超大规模集成电路的集成度已达到600万个晶体管，线宽达到0.3微米。用超大规模集成电路制造的电子设备，体积小、重量轻、功耗低、可靠性高。利用超大规模集成电路技术可以将一个电子分系统VISI概述 VlSI是70年代后期研制成功的，主要用于制造存储器和微处理机。64k位随机存取存储器是代超大规模集成电路，大约包含15万个元件，线宽为3微米。目前超大规模集成电路的集成度已达到600万个晶体管，线宽达到0.3微米。用超大规模集成电路制造的电子设备，体积小、重量轻、功耗低、可靠性高。利用超大规模集成电路技术可以将一个电子分系统乃至整个电子系统“集成”在一块芯片上，完成信息采集、处理、存储等多种功能。例如，可以将整个386微处理机电路集成在一块芯片上，集成度达250万个晶体管。超大规模集成电路研制成功，是微电子技术的一次飞跃，大大推动了电子技术的进步，从而带动了军事技术和民用技术的发展。超大规模集成电路已成为衡量一个国家科学技术和工业发展水平的重要标志。也是世界主要工业国家，特别是美国和日本竞争激烈的一个领域。超大规模集成电路将继续得到发展。 VlSI测试技术展望 a) 指数上升的芯片时钟频率对芯片测试的影响。研究表明，全速测试远比在较慢的时钟频率下进行的测试有效得多。对于高速电路，全速测试或者基于时延故障模型的测试，将越来越重要。显然，要实施全速测试，ATE必须能够以不低于被测电路的时钟频率工作。然而，高速的ATE非常昂贵。根据2000年的数据，一个能以1GHz的频率施加测试激励的ATE，每增加一个测试管脚其价格就上升3000美元。因此，用这样的测试仪进行高速测试的费用也很高。于是，半导体工业面临两个矛盾的问题。一方