台式测厚仪一般为实验室专用测厚仪。适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。微电脑控制、液晶显示 菜单式界面、PVC操作面板 接触式测量 测头自动升降 自动进样手动、自动双重测量模式 数据实时显示、自动统计 显示最大值、最小值、平均值和统计偏差可设进样步距、测量点数、进样速测厚仪 应用范围 适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。 特 征 微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降自动进样手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计显示大值、小值、平均值和统计偏差可设进样步距、测量点数、进样速度等参数标准接触面积、测量压力（非标可选）显示大值、小值、平均值和统计偏差标准量块标定RS232接口网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输 4 技术指标 测量范围：0～2mm 0～6mm；12mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张） 接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制进样步距：0～1000mm进样速度：0.1～99.9mm/s电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）净 重：32kg 5 标 准 GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 481